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X熒光硅鋁分析儀 X射線測(cè)定儀X熒光硅鋁分析儀 性能特點(diǎn):1 、微機(jī)化集成為一體,結(jié)構(gòu)緊湊,外形美觀。2、大屏幕液晶顯示,全中文菜單提示操作,使用極為方便。3、分析時(shí)間短,1分鐘能測(cè)出SiO2%、Al2O3%。
產(chǎn)品分類
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X熒光硅鋁分析儀 性能特點(diǎn):
1 、微機(jī)化集成為一體,結(jié)構(gòu)緊湊,外形美觀。
2、大屏幕液晶顯示,全中文菜單提示操作,使用極為方便。
3、分析時(shí)間短,1分鐘能測(cè)出SiO2%、Al2O3%。
4、儀器檢測(cè)時(shí)不破壞樣品,樣品可重復(fù)使用。
5、不用任何化學(xué)試劑、無(wú)三廢排放,不含放射源、低耗電,符合環(huán)保節(jié)能要求。
6、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)量大,含量結(jié)果、儀器自檢數(shù)據(jù)都可查詢,避免了打印耗材。
7、儀器執(zhí)行GB/T19140《水泥X射線熒光分析通則》。
8、可與配料系統(tǒng)聯(lián)網(wǎng),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制。
X熒光硅鋁分析儀 技術(shù)指標(biāo):
1、分析范圍: SiO2、Al2O3 0.01%~100%
2、分析精度:標(biāo)準(zhǔn)偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析寬度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%~15%,通過(guò)標(biāo)定工作曲線選定。
4、分析時(shí)間: n*60秒(n為1~5自然數(shù))。
5、使用條件: 供電AC200V~240V;環(huán)境溫度0~40℃;相對(duì)濕度<85%(30℃)。
6、整機(jī)功耗: <30W
7、整機(jī)尺寸:468mm*368mm*136mm
8、整機(jī)重量:13.8kg
X熒光硅鋁分析儀 X射線測(cè)定儀
X熒光鈣鐵分析儀選用X射線管作激發(fā)光源,X射線管產(chǎn)生的射線激發(fā)樣品,樣品中元素的k層電子被擊出,形成空穴,原子處于激發(fā)狀態(tài),隨后,外層電子立即填充k層電子空穴而產(chǎn)生電子躍遷,電子躍遷時(shí)釋放能量,發(fā)射各熒光元素的特征X射線(即X熒光)。