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磚廠X熒光鈣鐵分析儀 測(cè)鈣機(jī)【鶴壁創(chuàng)新測(cè)鈣儀】134.6199.6830常華,磚廠 建材廠 石灰廠測(cè)鈣儀 測(cè)鈣機(jī) 鈣鐵分析儀 熒光鈣鐵分析儀X熒光鈣鐵分析儀是一種新型的采用純物理分析方法的微機(jī)化臺(tái)式儀器,用于水泥廠,能夠30秒快速分析旋窯、機(jī)立窯、窯外分解旋窯廠家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、Fe2O3的百分含量
產(chǎn)品分類(lèi)
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1. 分析范圍: CaO、Fe2O3分析范圍均可調(diào)節(jié),通過(guò)標(biāo)定工作曲線的方法選定。
2. 分析范圍寬度: CaO%max—CaO%min≤7% Fe2O3 % max—Fe2O3 % min≤5%;
例如生料:CaO:39%~46%,F(xiàn)e2O3:0.01~5%。
3. 固有誤差: CaO:±0.10%,F(xiàn)e2O3:±0.10%。
4. 系統(tǒng)分析時(shí)間: 30×n秒(n為自然數(shù)),推薦值為60秒。
5. 分析精度: SCaO≤0.10%,S Fe2O3≤0.05%。
6. 溫度穩(wěn)定性: 在5~+40℃范圍內(nèi),漂移:∣△CaO%∣≤0.10%,∣△Fe2O3%∣≤0.10%。
7. 使用條件: 環(huán)境溫度:5~+40℃,相對(duì)濕度:≤85%(30℃),供電電源:220V±20V,50Hz。
8. 整機(jī)功耗: ≤30W。
9. 尺寸及重量: 468mm×368mm×136mm,13.8kg。
磚廠X熒光鈣鐵分析儀 測(cè)鈣機(jī)
輕質(zhì)碳酸鈣又稱(chēng)沉淀碳酸鈣,簡(jiǎn)稱(chēng)輕鈣,是將石灰石等原料煅燒生成石灰(主要成分為氧化鈣)和二氧化碳,再加水消化石灰生成石灰乳(主要成分為氫氧化鈣),然后再通入二氧化碳碳化石灰乳生成碳酸鈣沉淀,后經(jīng)脫水、,干燥和粉碎而制得。或者先用碳酸鈉和氯化鈣進(jìn)行復(fù)分解反應(yīng)生成碳酸鈣沉淀,然后經(jīng)脫水、干燥和粉碎而制得。由于輕質(zhì)碳酸鈣的沉降體積(2.4-2.8mL/g)比重質(zhì)碳酸鈣的沉降體積(1.1-1.9mL/g)大,所以稱(chēng)之為輕質(zhì)碳酸鈣。性質(zhì):白色粉末。無(wú)味 ,無(wú)臭。比重約2.71。在825~896.6℃分解。熔點(diǎn)1339℃。有無(wú)定形和結(jié)晶形兩種形態(tài),結(jié)晶形中又可分為斜方晶系和六方晶系,呈柱狀或菱形。難溶于水和醇。溶于酸,同時(shí)放出二氧化碳,呈放熱反應(yīng)。也溶于氯化銨溶液中。在空氣中穩(wěn)定,有輕微的吸潮能力。用途:可用作橡膠、塑料 、造紙、涂料和油墨等行業(yè)的填料。廣泛用于有機(jī)合成、冶金、玻璃和石棉等生產(chǎn)中。還可用作工業(yè)廢水的中種劑、胃與十二指腸潰瘍病的制酸劑、含SO?廢氣中的SO?消除劑、乳牛飼料填加劑和油毛氈的防粘劑。也可用作牙粉、牙膏及其它化妝品的原料。制法及工藝流程碳化法:系將石灰石與白煤按一定比例混配后,經(jīng)高溫煅燒、水消化、二氧化碳碳化,再經(jīng)離心脫水、干燥、冷卻、粉碎、過(guò)篩即得成品。CaCO?=高溫=CaO+CO?↑CaO+H?O=Ca(OH)?Ca(OH)?+ CO?===CaCO?↓+H?O包裝:麻布袋或塑料袋包裝。每袋凈重50公斤或25公斤。儲(chǔ)運(yùn)注意事項(xiàng):儲(chǔ)于干燥處。避免 與酸類(lèi)物質(zhì)接觸。運(yùn)輸中應(yīng)小心,不得散包。注意防潮。 碳酸鈣產(chǎn)品是一種粉體,根據(jù)碳酸鈣粉體平均粒徑(d)的大小,可以將碳酸鈣分為微粒碳酸鈣(d>5μm)、微粉碳酸鈣(1μm<d<5μm)、微細(xì)碳酸鈣(0.1μm<d≤1μm)、細(xì)碳酸鈣(0.02μm<d≤0.1μm)和微細(xì)碳酸鈣(d≤0.02μm)。輕質(zhì)碳酸鈣的粉體特點(diǎn)a 顆粒形狀規(guī)則,可視為單分散粉體,但可以是多種形狀,如紡錘形、立方形、針形、鏈形、球形、片形和四角柱形。這些不同形狀的碳酸鈣可由控制反應(yīng)條件制得。b 粒度分布較窄。c 粒徑小,平均粒徑一般為1-3μm。要確定輕質(zhì)碳酸鈣的平均粒徑,可用三軸粒徑中的短軸粒徑作為表現(xiàn)粒徑,再取中位粒徑作為平均粒徑。以后除說(shuō)明外,平均粒徑,即指平均短軸粒徑。重質(zhì)碳酸鈣的粉體特點(diǎn)a顆粒形狀不規(guī)則,是多分散粉體。b 粒徑分布較寬。c 粒徑大,平均粒徑一般為5-10μm。要確定重質(zhì)碳酸鈣的平均粒徑,需要測(cè)定粒徑分布函數(shù)和諸如顆 粒沉降速度或比表面積之類(lèi)的粉體現(xiàn)象函數(shù)。作為一種簡(jiǎn)便 的方法是在電子顯微鏡照片上測(cè)量顆粒投影的長(zhǎng)度和寬度,計(jì)算幾何平均粒徑作為表觀粒徑,再取中位粒徑作為平均粒徑。